Otsuka Electronics Co.,Ltd。在Tokyo 2021的高型功能性材料周上表现出线路扫描膜厚度计。

我将解释线扫描膜厚仪。
大冢电子已被要求测量大量薄膜厚度,但
大冢电子已被要求测量大量薄膜厚度,但

直到现在,许多客户对它是1分的事实感到不满。

毕竟,我能够测量出可以测量整个表面上测量点的膜厚计。
不光是厚度,其他薄膜异常也都在这里。
不光是厚度,其他薄膜异常也都在这里。

它以能够判断的形式存在。

基本上有膜厚范围,时间,系统,所以

我希望你可以询问细节。就这样。
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